EMV Fachtagung Programm

EMV Fachtagung

Programmübersicht (12. - 13. April 2016)



 Montag, 11. April 2016

ab 19:30 Uhr Referenten- und Ausstellerabend in der Orangerie des Gartenhotels Altmannsdorf


Dienstag, 12. April 2016

ab 08:00 Uhr Registrierung
09:00 - 09:15 Uhr Fachtagungseröffnung und Begrüßung
09:15 - 10:00 Uhr Aspekte der Funkrichtlinie 2014/53/EU und angewandte Prinzipien im elektromagnetischen Umfeld
Franz Ziegelwanger und Thomas Weber,
Bundesministerium für Verkehr, Innovation und Technologie
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10:00 - 10:45 Uhr KAFFEEPAUSE, AUSSTELLUNGSERÖFFNUNG mit Rundgang
10:45 - 11:30 Uhr EMI Rejection of Operational Amplifiers
Gunter Winkler und Bernd Deutschmann,
Technische Universität Graz
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11:30 - 12:15 Uhr Filterung von DCDC Wandlern unter genauer Betrachtung von stromkompensierten Drosseln und SMD-Ferriten
Hans-Peter Kaiser, Würth Elektronik eiSos GmbH & Co. KG
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12:15 - 13:30 Uhr MITTAGSPAUSE / AUSSTELLUNGSBESUCH
13:30 - 14:00 Uhr Gestrahlte Störfestigkeitsprüfungen im Nahbereich
Ralf Heinrich, Teseq GmbH
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14:00 - 14:30 Uhr Vergleich entwicklungsbegleitender Messmöglichkeiten im EMV-Nahfeld
Christian Bauer,  x.test GmbH
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14:30 - 15:00 Uhr EMV-Simulation: Praktische Anwendung in der Entwicklung
Dirk Müller, EMV-Testhaus GmbH
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15:00 - 15:45 Uhr KAFFEEPAUSE / AUSSTELLUNGSBESUCH
15:45 - 16:30 Uhr FFT-based measuring receiver for EMI compliance measurements on vehicles and car components, requirements and practical use
Jens Medler, Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG
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16:30 - 17:15 Uhr EMV-Prüfungen für Kraftfahrzeug-Komponenten akkreditiert und normkonform durchführen
Kurt Lamedschwandner, Seibersdorf Labor GmbH
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17:15 - 17:30 Uhr Wechsel ins EMV-PRÜFZENTRUM
17:30 - 18:30 Uhr VORSTELLUNG und BESICHTIGUNG NEUE AUTOMOTIVE-PRÜFHALLE
ab 18:30 Uhr Get Together mit Buffet

 

Mittwoch, 13. April 2016

08:30 Uhr Begrüßung
08:30 - 09:15 Uhr Neue Normanforderungen für die EMV Prüfungen: ESD / Burst / Surge / LF (0-150 kHz) / Power Fail
Rüdiger Späth, AMETEK CTS Germany GmbH
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09:15 - 10:00 Uhr EMC Simulation in the Design Flow of Modern Electronics
Matthias Tröscher, CST AG
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10:00 - 10:45 Uhr KAFFEEPAUSE / AUSSTELLUNGSBESUCH
10:45 - 11:30 Uhr Erstellung einer simulierbaren Beschreibung in SPICE für eine bestehende IBIS Beschreibung
Timm Ostermann, Johannes Kepler Universität Linz
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11:30 - 12:15 Uhr EMV-Verhalten von ICs und Elektronik - Probleme mit ESD und Burst vermeiden
Sven König, Langer EMV-Technik GmbH
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12:15 - 13:30 Uhr MITTAGSPAUSE / AUSSTELLUNGSBESUCH
13:30 - 14:15 Uhr Produktzertifizierungen in Märkten außerhalb der Europäischen Union unter besonderer Berücksichtigung der Anforderungen der Elektromagnetischen Verträglichkeit
Andreas Reiter, KEBA AG
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14:15 - 15:00 Uhr Nahfeld-basierte Charakterisierungs-Techniken für Fehlersuche und Vorhersage von EMV Emissionen elektronischer Systeme - Projekt Noiseless
Sven Backhove und Christian Hangmann,
Fraunhofer IZM / TU Berlin und Universität Paderborn
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15:00 - 15:45 Uhr KAFFEEPAUSE / AUSSTELLUNGSBESUCH
15:45 - 16:15 Uhr Achtung Ableitströme!
Ableitströme in Fehlerstrom-geschützter Umgebung

Herbert Blum, Schurter AG
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16:15 - 16:45 Uhr Impact of pulsed EMF on Humans caused by a Remote Piloted Aerial System
Alexander Preinerstorfer,
AIT Austrian Institute of Technology GmbH
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16:45 - 17:15 Uhr Umsetzung der EMF-Arbeitnehmerschutzrichtlinie 2013/35/EU ab 1. Juli 2016 – Was ist zu tun? Welche Arbeitsplätze sind besonders betroffen?
Gernot Schmid, Seibersdorf Labor GmbH
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17:15 - 18:00 Uhr KAFFEEPAUSE / AUSKLANG, Ende der Veranstaltung


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