EMV Fachtagung Abstracts

EMV Fachtagung

Gestrahlte Störfestigkeitsprüfungen im Nahbereich

Abstract: Ralf Heinrich, Teseq GmbH

Eine typische gestrahlte Störfestigkeitsprüfung, wie z.B. nach IEC 61000-4-3 kann Störphänomene im unmittelbaren Nahbereich von Störquellen, d.h. im Abstand von wenigen cm, nur unzureichend oder gar nicht nachbilden. Grund dafür sind einerseits die z.T. sehr hohen Feldstärken von einigen 100 V/m und mehr und andererseits die vom homogenen Feld abweichende Feldwellenimpedanz im reaktiven Nahfeld der Störquellenantenne.

Um die gestrahlte Störfestigkeit im Nahbereich normativ zu prüfen wird derzeit die IEC 61000-4-39 entwickelt. Der Vortragende ist Mitarbeiter in der internationalen Arbeitsgruppe der IEC SC77B/WG10, die u.a. an der Entwicklung des Normentwurfes der IEC 61000-4-39 arbeitet und wird über den aktuellen Stand der Arbeiten und die entsprechenden Prüfverfahren berichten.