Programm

EMV-Fachtagung

 (Stand: 31.03.2014)

 

 

3. April 2014 1. Tag 4. April 2014 2. Tag
07:45 - 08:30 Registrierung

 

08:30 - 08:45

Begrüßung

08:30

Begrüßung

08:45 - 09:15

Der Beschluß EG/768/2008 und die neue EMV-Richtlinie
MR Dipl.-Ing. Mag. Reinhard Dittler,
BMWFW - Bundesministerium für Wissenschaft, Forschung und Wirtschaft

08:30 - 09:30

„Elektromagnetische Bedrohungen"
Teil 1: Gefahrenlage und Risiko
Teil 2: EMV-Schutzmaßnahmen
Dr. Georg Neubauer, AIT Austrian Institute of Technology GmbH
Dr. Kurt Lamedschwandner, Seibersdorf Labor GmbH

09:15 - 10:15

„Aktuelle Normenwicklung der 61000-4-x Reihe - Leitungsgebundene und gestrahlte Störfestigkeit"
Dr. Ralf Heinrich, TESEQ AG
09:30 - 10:30 „Netzoberschwingungs- und Flickermessungen kompakt dargestellt“
DI Rüdiger Späth, EM TEST GmbH
10:15 - 11:00 Kaffeepause & Ausstellungseröffnung 10:30 - 11:00 Kaffeepause, Ausstellungsbesuch

11:00 - 12:00

„Methoden zur Messung des zeitlichen Verlaufs der elektrostatischen Entladung von textilen Geweben und Ausrüstungsgegenständen und Bestimmung der übertragenen Ladung“
Dr. Thomas Kirchner,
AGILENT Technologies Inc.
Dr. Thomas Krell,
Wehrwissenschaftliches Institut für Werk- und Betriebsstoffe - WIWeB
11:00 - 12:00 „Überspannungsschutz“
Markus Schubert,
WÜRTH Elektronik GmbH & Co. KG
12:00 - 13:00 Mittagspause, Ausstellungsbesuch,
Laborführung
12:00 - 13:00 Mittagspause, Ausstellungsbesuch, Laborführung
13:00 - 14:00 „NFC – WORKSHOP”

NFC simplifies the data acquisition process in health care
Ing. Martin Beisteiner, BSc,
DI Manfred Bammer, MAS
DI Andreas Oberleitner,
AIT Austrian Institute of Technology GmbH

Measurement of blood glucose via NFC enabled blood-glucose sensors
DI Stefan Cecil, Seibersdorf Labor GmbH
DI Manfred Bammer, MAS
AIT Austrian Institute of Technology GmbH

NFC-based Energy Harvesting & EMC
DI Robert Lurf, AIT Austrian Institute of Technology and Ing. Hans Preineder, Seibersdorf Labor GmbH

Smart NFC-transponders for mass market applications
DI Gernot Schmid, Seibersdorf Labor GmbH
13:00 - 13:45 „Elektromagnetische Verträglichkeit durch geeignete Filterung“
DI Christian Paulwitz, EPCOS AG - ein Unternehmen der TDK-EPC Corporation
14:00 - 14:30 Kaffeepause, Ausstellungsbesuch, Laborführung 13:45 - 14:30 Reducing the electromagnetic emission of DC/DC converters
Dr. Gunter Winkler,
Univ.-Prof. Dr. Bernd Deutschmann, Institut für Elektronik, TU-GRAZ
14:30 - 15:15 „Normkonforme EMV Emissionsmessung im Zeitbereich - Historie und Technologie“
Dr. Ing. Stephan Braun,
GAUSS Instruments GmbH
ab 14:30 Diskussion, Verabschiedung
15:15 - 16:00 “Interference and its solution for Near Field Communication”
Itaru Matsuda, Kitagawa GmbH
16:00 - 16:30 Kaffeepause, Ausstellungsbesuch
16:30 - 17:15 „ESD von Integrierten Schaltungen: Schutzstrukturen und Simulation“
a. Univ.-Prof. Dr. Timm Ostermann,
DI Gerald Hilber,
 Institut für Integrierte Schaltungen, JKU-LINZ
ab 17:30 Get Together mit Buffet

 

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