Messung der Schirmwirkung einer Materialprobe mit zeitselektiver Messmethode

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​Stefan Cecil, Richard Überbacher
​​​​​​​Seibersdorf Labor GmbH

Poster-Abstract

Bei der Messung der Schirmwirkung von Materialproben für den Gehäusebau von elektronischen Geräten nach MIL-STD 285 ist die Fertigung einer gut messbaren Probe in vielen Fällen problematisch. Oft ist das zu messende Material nicht in der Dimension der Einspannvorrichtung für die Schirmdämpfungsmessung vorhanden. In anderen Fällen ist die Probe mit einer isolierenden Schicht überzogen, welche das Messergebnis massiv beeinflusst. Um diese Probleme zu umgehen, wird versucht, die Bestimmung der Schirmwirkung mit einer anderen Methode durchzuführen. Diese Methode wurde bereits für die Bestimmung von Materialeigenschaften von Gesteinsproben verwendet. 

Bei dieser Methode wird ein Wellenpaket durch die Probe gesendet und durch zeitselektive Selektion der Teil des Wellenpaketes bestimmt, der den direkten Weg von Sende- zur Empfangsantenne ohne Reflexionen oder Beugung nimmt. Mit Hilfe dieses Paketes werden die entsprechenden S-Parameter der direkten Wellenausbreitung berechnet und daraus kann die Schirmwirkung des Materials bestimmt werden. Diese Methode ist vorallem für Mobilfunkfrequenzen geeignet.

Die Ergebnisse beider Methoden werden verglichen und dadurch festgestellt, welche Methode für welche Proben und welchen Frequenzbereich geeignet ist.