Herbert HACKL, Silicon Austria Labs GmbH
Dominik LIST, ams AG

In diesem Vortrag werden praktische Probleme der Simulation von EMV Messungen am Beispiel des BCI Tests gemäß ISO 11452-4 aufgezeigt. Diese bestehen vor allem darin, die Ungewiss- und Unbestimmtheiten des Testaufbaus abzubilden, unter anderem:

• Ermittlung der relativen Permittivität des Support-Materials (PU Hartschaum)
• Modellbildung für Kabelbäume (äquivalente, effektive Permittivität des Kabelschirmes)
• 3D Modellbildung der BCI Probe, Frequenzabhängigkeit der Permeabilität des Ferritkerns
• Einfluss der Batterieversorgung am DUT auf das Messergebnis

Wir erörtern den Einfluss obiger Parameter anhand praktischer Experimente und stellen Modelle zur Abbildung in der Simulation vor.

Im Vortrag werden teilweise Resultate aus einem kooperativen Forschungsprojekt zwischen ams AG und Silicon Austria Labs GmbH präsentiert. Für 3D Simulationen wurde die Software ANSYS HFSS verwendet, für Schaltungssimulationen Keysight ADS. BCI Tests wurden im EMV Labor des Instituts für Elektronik, TU Graz durchgeführt. Im Vortrag werden Fotos der Testaufbauten und Screenshots der Simulationsprojekte gezeigt und Resultate aus Simulation und Messung verglichen.